NI將於台北國際光電大展展出LED多點測試機台

2012 年 06 月 12 日

美商國家儀器(NI)將於6月19日至21日參加2012年台北國際光電大展,將針對研發驗證到實際產線測試端,所需的各種不同目的與需求,提出相對應的解決方案。展會現場也將同時展出發光二極體(LED)多點測試機台,展現該公司於光電產業的高適用性。
 



以LED產業為例,美商國家儀器完整的模組化儀器產品線,能幫助客戶建置客製化的測試設備,完整滿足R&D端驗證測試的需求,同時利用PXI平台高彈性的優勢,搭配Switch模組,以及TestStand高效能自動排程軟體,即可將測試功能轉移到產線,進行快速生產測試。
 



美商國家儀器將於台北國際光電大展展出LED多點測試機台,此機台為使用業界標準量測平台–PXI,搭配多種不同該公司模組化儀器,所設計完成的LED晶圓特性量測系統,能同時針對於多個LED進行測試,並輸出完整的測試報表,大幅降低產線上的生產時間與成本。
 



美商國家儀器網址:www.ni.com

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