NI擴充PXI於半導體測試作業功能

2009 年 11 月 23 日

美商國家儀器(NI)發表十款新PXI產品,可提升PXI於混合式訊號半導體測試作業的功能。此透過軟體定義的新產品套餐,已為了搭配NI LabVIEW圖形化系統設計(GSD)軟體而最佳化,包含四組高速數位輸入/輸出(HSDIO)儀器、兩組數位切換器、兩組強化的射頻(RF)儀器、一組高精確度的電源量測單位(SMU),與專屬的數位向量檔案匯入軟體。
 



新的NI PXI半導體套餐整合多項新功能,包含200MHz單端點數位I/O、10pA 電流解析度、多頻帶(Multiband)RF快速量測、DC/數位切換、Waveform Generation Language(WGL)與IEEE 1450 Standard Test Interface Language(STIL)檔案匯入功能。
 



PXI 半導體套餐可持續提升PXI對常見半導體裝置的測試功能,如類比數位轉換器(ADC)、數位類比轉換器(DAC)、電源管理IC(PMIC)、無線IC與微機電系統(MEMS)裝置。相較於半導體裝置進行特性描述、檢驗,與生產測試時,所常用的傳統箱型儀控與自動化測試設備(ATE),此套餐具備廣泛且高階的功能,可提供較高傳輸量、較大的彈性,並可縮短開發時間。
 



美商國家儀器網址:ni.com.tw

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