NI擴展RF/微波測試作業組合

2010 年 01 月 15 日

美商國家儀器(NI)於發表新的兩款射頻(RF)訊號處理模組,不僅提升PXI架構RF與微波測試系統的彈性與精確度,更進而擴充自動化測試產品系列。
 



在如RF訊號路徑衰變模式(Degradation Modeling)、場強(Field Strength)計量與接收器測試的應用中,工程師可使用新款NI PXI-5695-8GHz可程式化RF衰減器,搭配向量訊號產生器(VSG),於低功率提升RF訊號的品質。工程師亦可整合NI PXI-5691-8GHz可程式化RF前置放大器(亦可做為功率放大器),搭配VSG可提升最大功率;而搭配向量訊號分析器(VSA)可量測低功率訊號。
 



PXI-5695為50MHz-to-8GHz的雙通道可程式化RF衰減器,具備固定與可程式化的衰減路徑各一組。此款模組並可透過整合方式以調整RF功率,並可視情況取代RF生產測試器中的切換衰減器網路。工程師可整合PXI-5695與RF訊號產生器(如NI PXIe-5673-6.6GHz VSG),達到最高60dB總衰減與1.3:1的電壓駐波比(VSWR),以精確控制訊號功率。此控制功能將可大幅提升VSG的動態範圍,且為接收器敏感度精確量測作業所必備。
 



PXI-5691則為50MHz-to-8GHz的雙通道可程式化RF放大器,可做為前置放大器與功率放大器。此款放大器可超過20dBm最大輸出功率、最高60dB總增益、0.5 dB增益解析度、+31dBm的三階截斷點(IP3)與5dB雜訊指數;不論是整合 RF 訊號產生器或分析器均可提升量測作業的彈性與精確度。
 



美商國家儀器網址:ni.com.tw

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