NI於7月20日舉辦LED先進測試技術研討會

2011 年 07 月 08 日

美商國家儀器(NI)與順英科技將針對現今最熱門的發光二極體(LED)測試技術舉辦研討會,介紹最新PXI技術如何應用於LED光電多點測試,以達到LED最佳測試效能。該會將於7月20日在新竹科學園區科技生活館201室舉行。美商國家儀器竭誠歡迎各相關領域的專家學者一同與會,一起為LED的先進技術共同努力。
 



隨著LED的發展與技術愈來愈成熟,其應用領域也已經遍及背光模組與照明市場,根據LEDinside資料顯示,今年LED液晶電視機背光模組的滲透率可達 40~50%,且LED照明市場因應綠能與環保的需求,勢必會成為主流,預估 LED 的市場需求將成倍數成長,如何提高產能與降低測試成本已經成為當前主要的課題。因此,最佳的解決方案必然是利用半導體測試中普遍使用的多點測試技術,以提高產能與降低成本。
 



尤其是目前市場上多數的產品都只提供單點測試的功能,且電源供應器與電源量測單位(SMU)及其他關鍵零組件多採自行設計方式,故此次研討會中所推出完整的LED多點測試系統,不論是電學或光學特性的量測,均可提供完整的測試規畫,協助工程師完整建立LED生產線測試系統。
 



活動報名方法可採電話報名:02-2377- 2222#5555,或以E-mail報名:info.taiwan@ni.com及網路報名:ni.com/taiwan/seminar。
 



美商國家儀器網址:www.ni.com

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