NI舉辦無線通訊量測與設計技術研討會

2014 年 04 月 14 日

美商國家儀器(NI)舉辦無線通訊量測與設計技術研討會。此次研討會將由工程師與無線通訊產業的專案角度,安排豐富的講座內容,從射頻(RF)電路的設計、元件特性量測到成品驗證與量產測試,各主題皆找來業界具代表性的講師,從技術端及當前面臨的挑戰做清楚說明。


在無線測試領域,設計端和量測端的溝通和驗證,往往是工程師們耗費最多時間的環節;而在測試端,RF工程師們所須面臨的挑戰,除產品週期的不斷縮短,還要同時兼顧低成本、快速等需求。


此次活動將從設計端談起,由AWR對整合RF設計、原型製作及量測,做一系列的新趨勢闡述;此外,活動更邀請到晶片廠Broadcom對整體市場、產品剖析、及與NI簽訂的製造測試授權(Manufacturing Test License,MTL)等議題做深入分享;同時,工研院產業經濟與趨勢研究中心(IEK)的產業講師也將針對整體無線通訊市場未來的趨勢及走向,做詳細解說。


本會議包含專業市場分析,與深入的技術議題,如Envelope Tracking、天線設計量測、802.11ac量產測試手法等,將可一次完整呈現。


美商國家儀器網址:www.ni.com

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