NI靈活系統迎戰5G大勢

2018 年 08 月 23 日

國家儀器(NI)近日舉行「2018 NI新世代電子與半導體量測技術論壇」,剖析現今半導體與通訊元件量測與測試面臨的挑戰,並介紹最新5G毫米波量測系統、智慧測試技術、物聯網和穿戴式裝置等先進測試解決方案與實機展示,致力協助企業縮短反覆測試時程,進而提升生產效能。

讓大範圍的感測裝置節點在長時間運作下依然維持數據傳輸速率以及低功耗,是5G商用化首要任務;而頻段介於30~300GHz的毫米波有望大幅提升傳輸速率,是實現5G飆速的重要關鍵之一。

目前5G毫米波應用頻段仍在論戰階段,對此NI推出最新5G毫米波量測系統,為儀器市場上唯一能以FPGA加速進行5G NR與未來新標準調變、解調及量測的方案,提供2GHz瞬時頻寬、可彈性調整的IF頻率、支援2×2 MIMO與即時雙向運輸,並涵蓋28、39、60、71GHz等多種頻段Radio Head,滿足廣泛的5G NR測試需求。

同時,5G未來的商轉及新應用也將帶起半導體新一波高峰。在半導體測試過程,製程技術不斷推陳出新、裝置尺寸愈見精簡,不僅測試複雜度提高,更須設法降低精密電子與半導體所能容許的測試成本。NI半導體測試系統(STS)結合模組化儀器與系統設計軟體,從實驗室到量產採用同一PXI平台,可重複利用測試程式、加速測試專案進行。

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