是德推出第三代參數測試解決方案

是德科技(Keysight)日前宣布推出第三代的Keysight P9000系列大規模並聯參數測設系統。該系統可加速推動新技術的發展,並且降低先進半導體邏輯和記憶體IC的研發和製造成本。舉例而言,新型元件結構和更高的效能,讓每個先進技術節點(小於或等於20...
2018 年 01 月 26 日