NI PXI優化半導體特性描述/生產測試能力

美商國家儀器(NI)再度擴充其PXI平台功能,以新款PPMU(Per-pin Parametric Measurement Unit)與電源量測單位(SMU)模組,用於半導體特性描述與生產測試。其中,NI...
2011 年 09 月 21 日