USB Typ-C測試時間拉長 自動化量測方案看俏

作者: 陳玉鳳
2017 年 05 月 25 日

USB Type-C連接器的特性之一是正反可插,這樣的特性使設計較為「麻煩」,例如必須了解兩面元件之間的交互作用等。此外,對於測試而言,最顯而易見的影響就是測試時間會拉長。

太克(Tektronix)技術經理黃芳川指出,基本上,USB 3.1 Gen 1的實體層測試時間約需2.5分鐘,USB 3.1 Gen 2約需10分鐘,兩者相加為12.5分鐘,正反皆需測試就需要25分鐘。Type-C規格雖然是以USB 3.1 Gen 2為主,但當中其實仍有USB 3.1 Gen 1規格,因此兩者皆需測試。

不僅如此,Type-C和HDMI、DisplayPort等高速傳輸介面的整合,也增加設計及測試的困擾。黃芳川進一步說明, Type-C的替代模式(Alt Mode)連結了多種高速傳輸介面,因此在測試設計中需多增一個控制器,才能在各種規格間切換。

測試時間的拉長,也就更突顯自動測試的必要性。因此,太克已推出DisplayPort Type-C發射器測試方案,支援USB 3.1規格下的替代模式之一。DisplayPort相容性測試的最大挑戰之一是測試時間極長,而此方案的全自動化程序能在不到6小時內完成全套DisplayPort Type-C相容性測試,較其他競爭產品需耗費16小時能節省不少時間。

據了解,此版本的關鍵特性之一是引入DPOJET量測軟體,有助於分析待測物特性和進行除錯。也就是說,如果在相容性測試期間發生測試失敗,使用者可進入DPOJET DisplayPort量測庫,深入瞭解波形壓到眼圖遮罩等問題,並查看預加重位準與電壓擺幅之間的關係測試,以執行進階分析。

整體而言,進入USB 3.1 Gen 2的10Gbit/s高速傳輸時代,發射端(Tx)及接收端(Rx)測試皆面臨更多及更新的挑戰。在發射端部分,業者必須確認自家生產的裝置是否符合過去三個世代的USB規格,以及確保該裝置能取得USB IF的認證,不會在相容性方面出現問題。而在接收端部分,重點就在於需進行抖動耐受度(Jitter Tolerance)及SSC測試。

為了協助客戶能夠熟悉相關Tx及Rx測試,太克在近幾個月頻繁舉辦研討會及訓練課程,此外,分布在太克內的多間測試實驗室也常見客戶帶著待測物前來取經,足見Type-C的熱絡。

 

 

標籤
相關文章

挾類比/數位IC技術優勢 創惟混搭各式介面

2007 年 09 月 12 日

老將新秀火力全開 USB 3.0卡位戰開打

2010 年 01 月 11 日

熒茂/華映/介面強攻 大尺寸觸控市場掀激戰‎

2011 年 01 月 06 日

改用奈米銀/高溫ITO GFF觸控廠衝刺大尺寸良率

2013 年 01 月 09 日

一埠通用商機誘人 HDMI支援Type-C連接器

2016 年 09 月 06 日

HDMI祭出新標準 搶搭Type-C影音傳輸商機

2017 年 03 月 27 日
前一篇
NIWeek正式起跑 LabVIEW進入雙版本世代
下一篇
全球團隊同場競技 台大拿下NI Engineering Impact入圍獎

登入會員

本站程式甫於2022.5.5更新,
所有舊會員必須先點擊:
忘記密碼 進行密碼確認後,才能正常登入。

上述動作目的在於確保帳號安全性,造成不便懇請見諒。如您已重設過密碼,請忽略此訊息。