具備靈活/彈性擴充優勢 PXI模組儀器成IC測試新利器

作者: 小樵
2016 年 04 月 21 日
隨著半導體元件的設計日益複雜,測試在整體IC成本中所占的比例不斷成長。傳統射頻與混和訊號IC測試有時會在特性測試實驗室中進行,以便透過機架堆疊式箱型儀器取得高品質量測結果,但此方式無法處理大量晶片。PXI模組儀器將是解決這個問題的理想方案。
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