具備靈活/彈性擴充優勢 PXI模組儀器成IC測試新利器

作者: 小樵
2016 年 04 月 21 日
隨著半導體元件的設計日益複雜,測試在整體IC成本中所占的比例不斷成長。傳統射頻與混和訊號IC測試有時會在特性測試實驗室中進行,以便透過機架堆疊式箱型儀器取得高品質量測結果,但此方式無法處理大量晶片。PXI模組儀器將是解決這個問題的理想方案。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

提高效能/成本效益 線性驅動IC擴大LED應用

2008 年 05 月 05 日

有效降低輸出漣波雜訊 無線電源模組採線性穩壓器

2011 年 03 月 17 日

浮動閘極NAND面臨微縮瓶頸 3D/電荷擷取技術露鋒芒

2013 年 08 月 05 日

搭配低功耗感測器 VSM打造客製化健康照護

2015 年 01 月 10 日

無線技術創新大舉出籠 5G空中介面全面進化

2017 年 03 月 09 日

AI結合光學/運算技術 OCR文字辨識準確無礙

2022 年 04 月 28 日
前一篇
Qorvo購併GreenPeak 擴增物聯網RF產品陣容
下一篇
Socionext影像訊號處理器助攻 安全監控再升級