具備靈活/彈性擴充優勢 PXI模組儀器成IC測試新利器

作者: 小樵
2016 年 04 月 21 日
隨著半導體元件的設計日益複雜,測試在整體IC成本中所占的比例不斷成長。傳統射頻與混和訊號IC測試有時會在特性測試實驗室中進行,以便透過機架堆疊式箱型儀器取得高品質量測結果,但此方式無法處理大量晶片。PXI模組儀器將是解決這個問題的理想方案。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

不確定度大幅降低 新型RF/微波校正源量測法誕生

2009 年 02 月 26 日

自適應切換穩壓器更穩定 PSpice暫態切換模型模擬上陣

2010 年 06 月 10 日

效能/成本/尺寸通盤考量 電池/充電管理更上層樓

2010 年 07 月 15 日

增加晶圓缺陷可見性 對應分析加速良率提升

2017 年 09 月 16 日

組織化分析資安風險 聯網工廠拒當駭客天堂

2020 年 07 月 30 日

再生能源滿足ESG供電需求 太陽能系統配置五花八門

2022 年 11 月 24 日
前一篇
Qorvo購併GreenPeak 擴增物聯網RF產品陣容
下一篇
Socionext影像訊號處理器助攻 安全監控再升級