具備靈活/彈性擴充優勢 PXI模組儀器成IC測試新利器

作者: 小樵
2016 年 04 月 21 日
隨著半導體元件的設計日益複雜,測試在整體IC成本中所占的比例不斷成長。傳統射頻與混和訊號IC測試有時會在特性測試實驗室中進行,以便透過機架堆疊式箱型儀器取得高品質量測結果,但此方式無法處理大量晶片。PXI模組儀器將是解決這個問題的理想方案。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

善用線性變阻器 非線性轉換函數唾手可得

2009 年 11 月 16 日

結合類比處理/濾波能力 捷變收發器提升SDR性能

2015 年 06 月 08 日

防止機電系統異常發熱 軟性表面溫度偵測器展妙用

2015 年 12 月 07 日

提高量測準確度 示波器探棒使用成關鍵

2015 年 10 月 18 日

腳底互動裝置助力 VR遊戲體驗身歷其境

2019 年 09 月 07 日

自動駕駛感測融合限制大 純視覺路線成本效益突出

2025 年 06 月 26 日
前一篇
Qorvo購併GreenPeak 擴增物聯網RF產品陣容
下一篇
Socionext影像訊號處理器助攻 安全監控再升級