太克參數分析儀降低特性分析複雜性

2016 年 08 月 09 日

太克(Tektronix)宣布推出可自訂且完全整合的Keithley 4200A-SCS參數分析儀,不僅可為新手使用者或偶發性使用者,降低特性分析的複雜性、簡化測試設定,並提供清晰又精確的結果等方式,加速取得對半導體裝置、材料和製程的深入瞭解。


延續Keithley 4200-SCS參數分析儀的成功,全新的4200A-SCS儀器還具備現代化的工業設計、全新的圖形化使用者介面,以及一系列實用的自學工具,如嵌入儀器的專家教學影片,不僅可將測試設定時間降低達50%,並提供更輕鬆、更直觀的操作方式。可用性對於如多個使用者共享儀器資源的半導體裝置研究、裝置失效分析和可靠性測試等應用尤為重要。


Tektronix的Keithley產品系列總經理Mike Flaherty表示,在從事商業用途前,參數分析對於新半導體裝置和材料特性分析或測試裝置可靠性等程序而言是至關重要的步驟。然而,研究人員可能只須要偶爾執行這些測試,這也使得他們難以成為使用參數測試儀器方面的專家。這就是為什麼該公司費了九牛二虎之力要使該產品能易於設定,且易於學習如何操作,讓使用者即使之前毫無使用參數分析儀的經驗也不成問題。


Tektronix網址:www.tektronix.com.tw

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