太克推出PCI Express 3.0 Tx、Rx測試套件

2012 年 11 月 08 日

太克(Tektronix)推出業界最靈活、完整的自動化發射器(Tx)和接收器(Rx)相容性測試和除錯測試解決方案,以因應PCI Express 3.0標準。有了全新BERTScope系列誤碼率分析儀的增強功能,以及PCI Express測試軟體,現在積體電路、主機板和卡端設計人員能更專注於PCI Express3.0測試工作。
 



太克高效能示波器部門總經理Brian Reich表示,PCIe3的許多方面測試,如鏈結訓練和Tx等化特性是非常複雜的,也不容易被設計界理解。透過這一個強大的自動化套件,可輕鬆進行複雜的PCIe3測試,並確保獲得更一致的結果。也就是說,像壓力眼狀圖校驗和發射器相容性測試這類時間長又複雜的測試,並非只有資深工程師才能執行。
 



每一代PCI Express變得更快也更複雜,PCI Express 3.0以8Gb/s速度測試時涉及複雜的Rx壓力條件、BER相容性測試,以及眾多的TX相容性測試,而完整的測試支援則還需要在設計失敗時能進行除錯。太克現在提供業界最完整的支援水準,如PCI Express 3.0的實體層(PHY)的自動化測試和除錯。
 



自動化PCIE3 Rx測試,可根據PCI-SIG測試規格產生所需的壓力圖,現在包括時脈倍頻和眼狀圖張開度測試的完整支援。此外,DUT迴路控制自動化,簡化測試過程,並縮短獲得測試結果的時間。
 



除可將預加強新增到壓力圖的全新DPP125C這些增強功能外,還有結合可變的ISI的全新BSAITS125整合干擾,以及新的BSAPCI3自動校驗、迴路和鏈結訓練軟體。
 



其他組成完整Rx解決方案的元件,包括太克AFG3000任意波形/函數產生器的共模干擾測試,以及世界級的CR286A系列時脈還原裝置的鎖相迴路(PLL)頻寬解決方案。換言之,BERTScope這些補充功能並不需要協力廠商的附加元件就能進行。
 



對於PCIe3 Tx測試,太克透將PCI-SIG的SigTest公用軟體(適用於相容性測試),直接整合到DSA70000系列數位示波器的TekExpress自動化平台系統上。透過這些整合,更新的PCE3軟體能自動測試儀器,並利用SigTest進行待測物(DUT)控制、碼型驗證、資料擷取和分析,以及允許自訂多個SigTest測試結果報告,而且在相容性測試失敗時隨即提供除錯。
 



太克網址:www.tektronix.com.tw

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