展訊通信採用惠瑞捷Port Scale射頻測試方案

2008 年 07 月 23 日

惠瑞捷(Verigy)宣布,中國無線基頻晶片組供應商展訊通信選用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案,做為中國蘇州元件廠的量產測試系統。採用該套系統主因在於其測試產出速度快,又具有多元件(Multi-site)測試能力,可降低測試成本(COT),並且提供更高的性能表現和更優異的測試穩定度。相較於現有的解決方案,展訊通信自從採用Port Scale射頻測試系統以後,已經成功降低射頻元件量產測試成本達50%左右。
 


展訊通信資深營運長陳慶安表示,惠瑞捷的Port Scale射頻測試解決方案可提供穩定一致的測試結果,提高生產良率,協助持續滿足客戶對無線通訊元件愈來愈高的需求。
 


展訊通信從射頻收發器等低整合度的晶片到下一代無線通訊標準所採用的最新高整合度單晶片,都能有效地運用Port Scale射頻測試系統加以測試。使得展訊通信在發展射頻元件的藍圖時,擁有極大的彈性,可充分因應新一代技術以及不同整合度的需求,再加上更快速的測試時間與更高的並行測試能力,協助展訊通信大幅降低測試成本。
 



展訊通信網址:www.spreadtrum.com、惠瑞捷網址:www.verigy.com

標籤
相關文章

晶心32位元Andes Core於DTF論壇亮相

2008 年 02 月 01 日

安華高新型觸控技術適用可攜式裝置

2009 年 10 月 14 日

是德科技與英國布里斯托大學合作5G無線技術研究

2015 年 09 月 25 日

貿澤推出Analog Devices RadioVerse解決方案新頁面

2019 年 02 月 04 日

凌華推新模組助力高性能嵌入式/工業應用

2021 年 08 月 04 日

是德/新思打造全方位物聯網裝置網路安全防護平台

2023 年 10 月 06 日
前一篇
艾薩擴大支援微軟Silverlight平台
下一篇
R&S為國內首家經TAF認可EMI測試接收機校正實驗室