Globalpress美國矽谷電子產業參訪

強化上市速度 縮短半導體測試迫在眉睫

作者: 莊惠雯
2010 年 02 月 01 日
目前系統單晶片架構日趨複雜,所包含的電晶體數量也不斷增加,也因而拉長晶片測試時間。為使產品迅速上市,以搶得市場先機,EDA工具廠商致力開發各式技術,協助客戶進一步降低晶片測試時間。此外,有鑑於3D IC漸成顯學,EDA工具與半導體測試驗證業者也紛紛投入設備與設計工具的開發。
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