65奈米晶片檢測暨絕緣材料發展(下)

挾高良率/低容量/高可靠性 NCS銅多層導線獲青睞

作者: 高聖弘
2008 年 04 月 16 日
半導體大型積體電路(LSI)遵循摩爾(Moore)法則持續朝超微細化方向發展,目前伺服器等高速微處理器(MPU)與行動電話使用的先端LSI元件設計規則是90奈米,2005年以後各半導體廠商開發的次世代LSI元件,陸續跨足65奈米超微細領域,因此國外廠商推出65奈米世代LSI用、2.25低比誘電率、彈性率高達10GPa,具備高機械強度的多孔(Porous)Low-k材料,與奈米群二氧化矽(NCS)等先進絕緣材料。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

SoC設計探索善用儲存架構特性 提昇快閃記憶體系統效能

2004 年 11 月 11 日

撙節測試成本 提升示波器效率成當務之急

2004 年 12 月 27 日

採用最佳化MOSFET元件 展現直流匯流排轉換器的優點

2005 年 03 月 29 日

量測:善用數位螢光示波器 迅速測定SMPS的功率損耗

2005 年 05 月 05 日

溫升過高難治本 交換式電源電路MOSFET出奇招

2009 年 05 月 24 日

搭配電感拓撲設計 小訊號MOSFET減輕電源轉換功耗

2013 年 02 月 21 日
前一篇
照明應用日漸廣泛 LED量測技術/標準化重要性突顯
下一篇
Maxim推出Pre-emphasis驅動器