FPD檢測與實務系列(三)

提高液晶間隙厚度量測準確性 多通道光譜儀把關

作者: 劉志祥 / 林友崧 / 莊凱評
2007 年 09 月 04 日
近幾年液晶顯示器需求的大幅成長,帶動面板廠建廠以增加面板產能,而自動光學檢測則默默扮演提升面板產能及品質的關鍵角色。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

鎖定高成長應用 MCU商力推專用型方案

2012 年 09 月 03 日

中功率技術/標準更趨成熟 無線充電應用商機全面引爆

2013 年 11 月 04 日

矽穿孔技術襄助 3D IC提高成本效益

2014 年 09 月 01 日

抑制振動/溫度引起之誤差漂移 中/高階工業感測器責任重大

2017 年 04 月 27 日

機器人雜訊強度將受管制 雜訊抑制對策勢在必行(2-1)

2024 年 04 月 19 日

三星聯手MIT蓋「樓中樓」,意圖繞過台積電的護城河

2025 年 12 月 15 日
前一篇
太克/FS2開發新FPGAView軟體
下一篇
缺矽風暴未停歇 業者轉向投產薄膜太陽能