落實故障測試及失效定位 IPM可靠性挑戰迎刃解

作者: 吳淩 / 遊俊 / 黃彩清 / 龔瑜
2019 年 02 月 26 日
隨著工業製造水準的提升,智慧功率模組(IPM)的生產技術得已發展迅速,元件的可靠性將是未來研究所面臨的新挑戰。針對國內外近年來在智慧功率模組失效分析相關的主要研究內容,本文綜述了智慧功率模組應用失效的測試方法以及失效定位技術,總結了連續性失效、絕緣性失效、驅動晶片(HVIC)故障、絕緣閘雙極電晶體(IGBT)故障,以及NTC故障的測試方法,並分析了這些元件故障可能的失效原因。最終總結了通過測試方法進行快速IPM失效的故障定位方法。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

滿足高畫質需求 64掃LED顯示器驅動晶片給力

2021 年 10 月 01 日

智慧型交換器提升基礎設施效率 打通企業網路任督二脈

2006 年 05 月 29 日

選用高靈活性訊號產生/分析平台 5G毫米波突破測試桎梏

2016 年 02 月 06 日

LTE/智能充電站挑戰技術瓶頸 無人機應用更添彈性

2017 年 11 月 06 日

英飛凌新型智慧功率模組提高生產效率

2022 年 05 月 17 日

超導數位技術變革AI/ML發展 實現運算設備用電永續(1)

2024 年 10 月 04 日
前一篇
加速工業4.0應用步伐 TI三管齊下打造完善生態系
下一篇
安謀推出新一代Armv8.1-M架構與Helium技術