蔚華/南方聯手推出非破壞性SiC晶圓檢測方案

作者: 黃繼寬
2023 年 11 月 28 日
半導體測試解決方案供應商蔚華科技與旗下數位光學品牌南方科技,近日共同推出JadeSiC-NK非破壞性缺陷檢測系統。該檢測系統是專為碳化矽晶圓的缺陷檢測而設計,可協助碳化矽晶圓供應商跟使用碳化矽材料製造...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

正面挑戰SiC GaN緩步進軍中功率市場

2016 年 10 月 24 日

應對晶片短缺 博世再加碼4億歐元擴產能

2021 年 11 月 02 日

台灣半導體攜手升級現優勢 新技術競爭突圍

2022 年 09 月 14 日

劍指寬能隙商機 英飛凌馬來西亞居林3廠啟用

2024 年 08 月 09 日

格棋中壢新廠落成 車用/射頻應用兩頭布局

2024 年 10 月 23 日

工研院/台達電聯合發表車用驅動碳化矽功率模組

2025 年 01 月 22 日
前一篇
歐特明推出視覺AI大型車主動預警輔助系統
下一篇
Tektronix推出開放原始碼Python原始驅動程式套件