藉助度量目標設計工具 先進記憶體重疊精準度躍升

作者: Honggoo Lee等
2016 年 01 月 10 日
在微影製程(Lithography)中,由於裝置節點收縮及採用多模式方法,重疊變得更有難度。而重疊規範也更嚴密,因此必須採用更為複雜的重疊控制方法,如高階或逐欄位控制。此外,嚴密的重疊規範開始產生另一...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

環保議題衝擊產品設計 揮發性有機化合物成隱形殺手

2009 年 02 月 26 日

Midspan設備/四對線供電技術相挺 高功率PoE應用開枝散葉

2011 年 10 月 24 日

強化訊號切換系統設計 醫療設備自動化量測效能躍進

2014 年 03 月 20 日

借力Codelink軟體調試工具 SoC功能驗證更效率

2015 年 04 月 12 日

延長高速訊號傳輸距離 Retimer/Redriver各擅勝場

2023 年 03 月 23 日

多方蒐集環境數據 IoT感測樁推動農業智慧升級

2023 年 04 月 16 日
前一篇
運用四步驟製程控制方法 工業製造效能/品質大幅提升
下一篇
USB型即時頻譜分析儀問世 EMI相容性測試成本銳減