智慧型手機處理器變身

迎接LTE設計/測試新挑戰 量測儀器解決方案率先出擊

作者: Sandy Fraser
2008 年 03 月 24 日
通訊技術由2G發展到3GPP LTE時,在設計與測試上帶來許多新挑戰,由於LTE測試規格將底定,也讓廠商在測試標準上有所依歸,可解決日後LTE全面商用化後,產品不相容問題,而技術永遠跑在前頭的量測儀器商,也適時推出符合LTE測試需求產品,解決LTE特殊的測試需求。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

發揮可重複編程特性 FPGA引領車用可視系統設計

2007 年 10 月 25 日

分流式架構助陣 太陽光電儲能如虎添翼

2010 年 11 月 01 日

運用無感測器向量控制技術 工業變速馬達能源效驟升

2015 年 05 月 16 日

一次搞懂模組化/單機儀器差異 模組化儀器五大迷思面面觀

2014 年 10 月 30 日

建立平均模型 返馳轉換器漏電感影響全都露

2016 年 03 月 26 日

近距離傳輸不塞車 D2D通訊暢通5G疾行網路

2017 年 07 月 22 日
前一篇
Maxim推出三通道/PCI Express热插拔控制器
下一篇
行情正夯 群雄搶占數位相框市場