智慧型手機處理器變身

迎接LTE設計/測試新挑戰 量測儀器解決方案率先出擊

作者: Sandy Fraser
2008 年 03 月 24 日
通訊技術由2G發展到3GPP LTE時,在設計與測試上帶來許多新挑戰,由於LTE測試規格將底定,也讓廠商在測試標準上有所依歸,可解決日後LTE全面商用化後,產品不相容問題,而技術永遠跑在前頭的量測儀器商,也適時推出符合LTE測試需求產品,解決LTE特殊的測試需求。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

挾低功耗/低成本/特性 UWB射頻前端電路設計邁大步

2008 年 07 月 29 日

靜電放電防護重要性突顯 ESD/HDMI兼容性方案出爐

2008 年 08 月 04 日

GCD技術突破 特徵分析加速MOSFET演進

2010 年 01 月 28 日

LED照明系統創新設計知易行難

2010 年 02 月 08 日

備妥應變措施 智慧工廠聯網安全免煩惱

2019 年 04 月 28 日

直流充電樁產線測試不可少 ATS確保產品穩定(1)

2024 年 03 月 06 日
前一篇
Maxim推出三通道/PCI Express热插拔控制器
下一篇
行情正夯 群雄搶占數位相框市場