智慧型手機處理器變身

迎接LTE設計/測試新挑戰 量測儀器解決方案率先出擊

作者: Sandy Fraser
2008 年 03 月 24 日
通訊技術由2G發展到3GPP LTE時,在設計與測試上帶來許多新挑戰,由於LTE測試規格將底定,也讓廠商在測試標準上有所依歸,可解決日後LTE全面商用化後,產品不相容問題,而技術永遠跑在前頭的量測儀器商,也適時推出符合LTE測試需求產品,解決LTE特殊的測試需求。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

提升LCD TV畫質表現 最佳化驅動電路為關鍵

2007 年 06 月 29 日

突破技術瓶頸 鋰電池力爭電動車電源主流

2009 年 04 月 06 日

選用高靈活性訊號產生/分析平台 5G毫米波突破測試桎梏

2016 年 02 月 06 日

高效能LRA驅動器顯威 震動反饋增強觸控體驗

2015 年 08 月 22 日

時序交錯式ADC克服校正難題 SDR系統動態範圍不打折

2014 年 10 月 16 日

多天線設計趨勢不可擋 模擬工具解決複雜干擾問題

2020 年 08 月 13 日
前一篇
Maxim推出三通道/PCI Express热插拔控制器
下一篇
行情正夯 群雄搶占數位相框市場