智慧型手機處理器變身

迎接LTE設計/測試新挑戰 量測儀器解決方案率先出擊

作者: Sandy Fraser
2008 年 03 月 24 日
通訊技術由2G發展到3GPP LTE時,在設計與測試上帶來許多新挑戰,由於LTE測試規格將底定,也讓廠商在測試標準上有所依歸,可解決日後LTE全面商用化後,產品不相容問題,而技術永遠跑在前頭的量測儀器商,也適時推出符合LTE測試需求產品,解決LTE特殊的測試需求。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

實現利用廢熱供電無線感測器 超低電壓能量採集器達陣

2011 年 03 月 21 日

借力Thunderbolt菊花鏈架構 筆電周邊功能擴充更彈性

2012 年 05 月 03 日

感測/連結/電源管理一顆搞定 先進SoC打造智慧穿戴裝置

2016 年 04 月 24 日

定電流馬達控制平滑度升級 安全監控攝影機畫面更清晰

2016 年 06 月 09 日

資安控管重中之重 SSD韌體安全更新不可少

2021 年 09 月 05 日

工控資安不可輕忽 AMR網路攻擊防範有道

2022 年 04 月 18 日
前一篇
Maxim推出三通道/PCI Express热插拔控制器
下一篇
行情正夯 群雄搶占數位相框市場