智慧型手機處理器變身

迎接LTE設計/測試新挑戰 量測儀器解決方案率先出擊

作者: Sandy Fraser
2008 年 03 月 24 日
通訊技術由2G發展到3GPP LTE時,在設計與測試上帶來許多新挑戰,由於LTE測試規格將底定,也讓廠商在測試標準上有所依歸,可解決日後LTE全面商用化後,產品不相容問題,而技術永遠跑在前頭的量測儀器商,也適時推出符合LTE測試需求產品,解決LTE特殊的測試需求。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

集多種人機互動技術於一身 智慧電視操作更Easy

2014 年 01 月 10 日

善用軟性貼覆式溫度偵測器 機電設備降低過溫損壞風險

2016 年 01 月 16 日

支援多重工業通訊協定 SoC FPGA加快多軸馬達設計

2015 年 03 月 15 日

簡化評估波形加速設計驗證 讓5G NR測試訊號符合標準

2019 年 07 月 15 日

滿足垂直產業特殊任務需求 AI Edge彈性成就關鍵應用

2021 年 10 月 31 日

電源/訊號網路分道揚鑣好處多 晶背供電將成大勢所趨

2022 年 12 月 19 日
前一篇
Maxim推出三通道/PCI Express热插拔控制器
下一篇
行情正夯 群雄搶占數位相框市場