量測:快速找出設計問題與異常 選對邏輯分析儀大有幫助

作者: Joel Woodward
2005 年 06 月 01 日
逐漸提升的設計精密度造成高效率內部電路驗證工具的更大需求。許多團隊使用舊有的邏輯分析技術,掙扎於其下一代設計的驗證工作。今日邏輯分析儀中...
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