類比技術:類比元件測試新寵 DFT縮短測試時間與成本

2005 年 08 月 03 日
測試模式是一種可測試設計(Design-for-Test, DFT)技術,主要用於半導體元件測試。採用測試模式技術的設計可作動態配置,讓一個或多個獨立功能方塊接受測試,不像全功能測試般出現寄生參數效應...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

多核心運算支援 聲音辨識強化監控效能

2009 年 12 月 20 日

JESD 204B介面助力 多重ADC訊號取樣同步化達陣

2013 年 07 月 29 日

強化DPD演算效能 SoC FPGA提升蜂巢網路設備整合度

2013 年 09 月 16 日

慣性導航/多頻GNSS聯手 都會區精準定位帶動創新應用

2022 年 07 月 11 日

非監督式學習大行其道 場景深度偵測相對複雜(2)

2024 年 01 月 14 日

台積電次世代面板級封裝技術2026年啟動 Copos重塑封裝新格局

2025 年 08 月 24 日
前一篇
眺望台:元件間訊號流動關係重大 完整訊號路徑架構可提升效能
下一篇
LSI與RTJ Computing攜手合作 提供支援Java技術的ZSP核心解決方案