類比技術:類比元件測試新寵 DFT縮短測試時間與成本

2005 年 08 月 03 日
測試模式是一種可測試設計(Design-for-Test, DFT)技術,主要用於半導體元件測試。採用測試模式技術的設計可作動態配置,讓一個或多個獨立功能方塊接受測試,不像全功能測試般出現寄生參數效應...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

離線式LED照明開發挑戰高 驅動器電路設計不可不慎

2011 年 08 月 04 日

讀取性能快又可靠 NOR Flash簡化智慧汽車設計

2012 年 09 月 23 日

先進技術提升電動車能源效率 交通運輸綠色革命如火如荼

2017 年 05 月 18 日

Wi-Fi/LTE/LPWA各有所長 IIoT閘道器助攻遠端監控

2021 年 03 月 18 日

提前掌握Source/Sink產品測試重點 HDMI 2.1認證挑戰迎刃解

2022 年 12 月 22 日

嵌入式AI應用持續成長 深度學習大顯神威(3)

2024 年 06 月 18 日
前一篇
眺望台:元件間訊號流動關係重大 完整訊號路徑架構可提升效能
下一篇
LSI與RTJ Computing攜手合作 提供支援Java技術的ZSP核心解決方案