類比技術:類比元件測試新寵 DFT縮短測試時間與成本

2005 年 08 月 03 日
測試模式是一種可測試設計(Design-for-Test, DFT)技術,主要用於半導體元件測試。採用測試模式技術的設計可作動態配置,讓一個或多個獨立功能方塊接受測試,不像全功能測試般出現寄生參數效應...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

從磊晶與製程下手 UV LED追求更高發光效率

2005 年 04 月 29 日

改善多相位PWM暫態響應效能 LTB技術降低系統成本

2007 年 08 月 20 日

塑膠基板/封裝技術躍進 曲面螢幕強化可撓與耐用性

2014 年 05 月 05 日

高整合MCU/77GHz收發器護航 雷達系統提升汽車安全

2014 年 05 月 12 日

傳輸效率大幅躍進 訊號/雜訊為檢測要點

2018 年 02 月 17 日

Wi-Fi 6引領無線物聯網起飛 掃除技術與應用障礙(2)

2023 年 06 月 07 日
前一篇
眺望台:元件間訊號流動關係重大 完整訊號路徑架構可提升效能
下一篇
LSI與RTJ Computing攜手合作 提供支援Java技術的ZSP核心解決方案