PCIe3.0直搗高階版圖

傳輸速率挑戰創新高 PCIe設計量測舉足輕重

作者: Gordon Getty
2008 年 09 月 24 日
PCIe 2.0問世後,晶片與系統的設計挑戰也更加劇,為協助晶片和系統業者順利開發產品,相關的量測驗證項目的重要性將益發突顯,量測儀器已不可或缺。
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