具備靈活/彈性擴充優勢 PXI模組儀器成IC測試新利器

作者: 小樵
2016 年 04 月 21 日
隨著半導體元件的設計日益複雜,測試在整體IC成本中所占的比例不斷成長。傳統射頻與混和訊號IC測試有時會在特性測試實驗室中進行,以便透過機架堆疊式箱型儀器取得高品質量測結果,但此方式無法處理大量晶片。PXI模組儀器將是解決這個問題的理想方案。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

提高IP整合效率 SoC開發時程大幅縮減

2016 年 07 月 21 日

解決VFD接地故障 新一代敏感繼電器扮要角

2018 年 01 月 08 日

混合式工作時代降落 穿戴視訊裝置提升前線效率

2022 年 08 月 04 日

TEM分析穩固GaN元件功能 掌握差排晶體缺陷(2)

2024 年 02 月 02 日

善用GPS資訊建立初始參數模型 低軌衛星定軌更精確(1)

2024 年 02 月 17 日

整合嵌入式系統/神經網絡/邊緣運算 Easy Chat+為障礙者發聲(3)

2024 年 03 月 07 日
前一篇
Qorvo購併GreenPeak 擴增物聯網RF產品陣容
下一篇
Socionext影像訊號處理器助攻 安全監控再升級