凌華量測研討會分享自動化測試關鍵技術

2016 年 06 月 22 日

近年市場對量測的取樣速度、精度、即時性等要求提高,量測產業如何在有限的測試成本下,滿足高規格測試需求,形成一項艱鉅的挑戰。有鑑於此,凌華科技於近期舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」,分享工業物聯網與電子量測關鍵技術,提出降低測試成本與提升測試效能之道。


凌華科技量測產品中心協理阮北山表示,近年來,在模組化儀器領域,PXI一直以18%以上的平均年複合增長率保持穩定增長,相比傳統儀器,基於此技術的模組化儀器具有良好的拓展性、靈活性,在整體生命週期成本方面更具有優勢,因此,此技術的測試方案得到越來越多的認可,目前已廣泛應用於各行業領域的不同測試階段。


傳統的量測儀器每一台僅提供單一功能,當需要兩種以上的測試功能時,必須準備多台的儀器來達成這樣的目的,此時,儀器之間的同步性就會是一個問題。研討會內容介紹PXI模組化儀器產品在高速高精度訊號量測應用,針對自動化應用的量測需求,說明如何透用工業級高性價比的PXI模組化儀器產品,來構建自動化的測試系統,可協助使用者省下採購昂貴設備的費用,來達到多功能的同步、高速自動化、節省空間、縮短測試時間、提高測試品質與節省成本之多重目的。


凌華網址:www.adlinktech.com

標籤
相關文章

NI於PXI TAC 2010提供PXI全套免費保養

2010 年 05 月 11 日

是德推出整合掃頻/FFT功能PXI訊號分析儀

2014 年 09 月 23 日

泰利特台北開發者大會分享物聯網發展趨勢

2016 年 06 月 30 日

Xilinx執行長Moshe Gavrielov宣布退休

2018 年 01 月 10 日

世平舉辦安森美IIoT應用方案技術研討會

2018 年 06 月 13 日

控創全新單板電腦升級邊緣運算能力

2023 年 07 月 07 日
前一篇
看準台灣銀髮商機 創新醫療電子正夯
下一篇
全局快門技術助威 CMOS影像感測器性能躍增