為因應半導體測試產業所面臨的趨勢與挑戰，美商國家儀器(NI)與美商泰瑞達(Teradyne)、太克科技(Tektronix)、致茂電子(Chroma)等超過十家國內外公司，將在2010年3月23日於台北六福皇宮共同舉辦半導體測試高峰論壇。
本論壇集合了國內外知名專家與廠商，特別針對半導體產業的驗證與測試做深入探討，提供豐富的講題及解決方案；從標準的相容性測試、IC訊號的特性描述或驗證、測試系統的建立到射頻(RF)領域的半導體應用案例等，提供各個面向的探討與深入剖析之外。
本論壇提供十二個技術講座，內容包含最新的通用序列匯流排(USB)3.0、高畫質多媒體介面(HDMI)1.4、三維空間(3D)影像等測試，也將介紹最新的PXI數位、電源及RF模組，以及如何以更高的成本效益建立開放的測試系統，為目前的半導體測試挑戰提出更多的方案。可參閱活動網址ni.cm/taiwan/sts2010。
美商國家儀器網址：ni.com/taiwan
