吉時利(Keithley)針對Model 4200-SCS半導體特性分析系統推出7.1版Keithley Test Environment Interactive(KTEI)。這款升級軟體能檢測更高功率的半導體元件，也能支援小訊號元件的特性分析。Model 4200-SCS是市面上較完整的半導體特性分析儀，不僅讓嚴苛的量測作業變得容易，更能保護資本設備的投資，進而降低測試成本。
KTEI V7.1結合一系列創新的特色與功能，擴展Model 4200-CVU(電容-電壓單元)的性能，包括軟體支援方案，能針對功率最高達200V DC、300毫安培的半導體元件進行特性分析(或400伏特差動偏壓)。不僅限於LDMOS的單一領域，還包括其他高功率半導體元件的應用領域，例如汽車、電子液晶顯示器、微機電等。
升級方案另一項重要功能，是對差動直流偏壓(Differential DC Biases)的運用。Model 4200-CVU結合C-V儀器的對稱式線路和快閃記憶體的升級，能在C-V HI與C-V LO終端運用高達60伏特的差動DC偏壓。吉時利為第一家推出該獨特功能的參數分析儀廠商，在受測元件的電場控制(Electric Fields)方面獲得更高的彈性；對於建構像奈米元件等獨特元件的模型也特別有用。KTEI V7.1已加入4200-CVU韌體升級功能，因此省去將設備送回原廠重新設定的不便。
吉時利網址：www.keithley.com.tw
