先進量測方案廠商美商吉時利(Keithley)對Model 4200-SCS半導體特性分析系統進行全面的硬體、韌體和軟體升級，7.2版的Keithley Test Environment Interactive(KTEI)升級軟體包含九種新的太陽能電池測試函式庫，針對系統電容-電壓(C-V)量測功能擴展的頻率範圍，支援吉時利最新的Model 4200-SCS九插槽機架。
KTEI V7.2新增的太陽能電池測試函式庫擴充了Model 4200-SCS支援I-V、C-V和電阻測試應用的功能，在人們對替代能源的興趣大增以及政府大力支持的情況下，這些測試功能顯得越來越重要。該款軟體升級也支援最新的太陽能電池測試技術DLCP(Drive-Level Capacitance Profiling)，DLCP能提供薄膜太陽能電池上的缺陷密度(defect density)資訊，該測試技術若採用之前的測試方案是很難精確實現的。
此外，Keithley在2007年11月份所推出的Model 4200-電容-電壓單元(CVU)測試卡可輕易經由修改來支援DLCP測試技術。為了支持7.2版的升級，吉時利還推出了新款高性能三軸纜線套件(Triaxial Cable Kit)，用於連接Model 4200-SCS和探針台，能夠大大簡化在直流I-V、C-V和脈衝測試之間轉換的過程。這款新的纜線套件毋須使用者重新布線，也能夠消除由於布線誤差導致的測量誤差。新款的纜線套件有兩種版本現正供應中，一種適用於Cascade Microtech探針台；而另外一種適用於SUSS MicroTec探針台。
吉時利網址：www.keithley.com.tw
