奈米製程步步為營

善用Y係數/冷雜訊量測 ATE有效降低RF量產測試成本

2008 年 09 月 01 日
測試射頻到基頻架構的雜訊指數已是射頻元件量產測試必經的步驟,為縮短測試時間和降低測試成本,必須在自動化測試設備中導入冷雜訊,或使用具任意波形產生能力雜訊源的Y係數方法來進行測試。
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