安立知(Anritsu)為其 VectorStar 向量網路分析儀(VNA)，推出通用夾具提取(Universal Fixture Extraction, UFX) 選項，提供訊號完整性及 on-wafer 工程師更廣泛的 on-wafer 及夾具校準選擇，即使是在不具備全套校準標準時亦能使用。專為滿足 4G 及新興 5G 系統、以及回程網路及資料中心之高頻、高數據速率需求相關的設計挑戰，UFX具備獨特的分析工具，使工程師可以更準確、更有效地進行評估設計。
該VNA解決方案經由強化測試夾具去嵌入來強化模型精度，進而提升首次產能，因此可加速上市時程。同時，亦提供工程師開發具備競爭優勢的高速資料吞吐量產品之能力。
為協助分析在測試夾具中的隔離缺陷，UFX 亦內含定序剝離(Sequential Peeling)功能。訊號完整性工程師可根據相位函數匹配，在夾具的某個部分(例如常見的傳輸部分)產生.sNp 檔。該功能提供了更詳細的夾具資訊，進而可以更輕鬆地改良測試夾具設計。
UFX 進一步擴展了 VectorStar的功能，以進行 on-wafer 元件特性描述，以及高速資料傳輸的測量。該公司 VNA 產品線VectorStar 採用獲得專利的 NLTL 技術，能提供單一儀器 70 kHz 到 145 GHz 的最廣覆蓋率。該系列 提供研發工程師所需的效能水準，以準確且可靠地建模高頻元件，並驗證最先進的設計，同時可在確保精度的情況下，達到最高處理能力。
