安立知(Anritsu)宣布推出新款誤碼率(BER)與眼圖綜合測試儀–BERTWave MP2100B，支援更有效率的多通道光學模組評估，並支援同步的BER測試與眼圖分析。
不同於傳統在執行BER測試與眼圖分析時需要兩台測試儀器，現在只需一台MP2100B即可測量評估光通訊系統中使用光學模組與光學元件必備的所有項目
，有助於縮減高達40%的設備成本。此外，新增選配的光交換器與光衰減器，使新版儀器成為評估多通道光學模組與光學元件的全功能完整量測解決方案。
為支援光學模組及元件製造市場需要更快測試速度的需求，新的高速取樣模式速度高達每秒十五萬個樣本，速度比舊款模式快1.5倍，支援省時的高速眼圖遮罩測試(Eye Mask Test)及眼圖分析。此外，該產品內建的誤碼率測試儀(BERT)可升級至四通道(4ch)，同步實現多通道光學模組BER測試，如QSFP+等，更將測試時間縮短到較舊款儀器的80%。
新產品的特點還包括：整合BERT與取樣示波器；具備高速BER量測；可進行高速眼圖遮罩測試；支援電子與光學介面；寬頻作業頻率從125 Mbit/s到12.5 Gbit/s 的位元率選項；具時脈回復功能；以及可進行遮罩餘裕測試。
安立知網址：www.anritsu.com
