專訪NI亞太區半導體市場開發經理潘建安 混合訊號測試帶動開放式ATE

作者: 黃繼寬
2018 年 09 月 09 日
為了在晶片上整合更多功能,加上在物聯網概念的風潮下,越來越多應用需要具備感知真實世界訊號的能力,新一代晶片設計不僅更複雜,而且除了數位邏輯、內嵌式記憶體外,還增加了更多通訊、感測等類比功能。混合訊號晶片大行其道,正在改變市場需求的樣貌,也讓國家儀器(NI)找到了切入半導體測試的契機。
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