專訪NI行動裝置業務部門副總裁David Loadman PXI儀器縮減物聯網測試成本

作者: 黃耀瑋
2015 年 06 月 11 日
新一代PXI無線測試系統(WTS)大幅推升行動、物聯網裝置產測效率。國家儀器(NI)發表支援多重標準、多樣待測裝置(DUT)/連接埠及高速平行測試的PXI無線測試系統,能滿足行動及物聯網設備製造商降低測試成本、提高生產效率的要求,包括高通創銳訊(Qualcomm...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

PXI擴充標準/連接埠支援 物聯網無線測試成本再降

2015 年 05 月 18 日

專訪美商國家儀器產品行銷副總裁Mike Santori PXI儀器躍居IoT產業新寵

2014 年 09 月 07 日

香港秋季電子展首設新創區 物聯網應用大放異彩

2017 年 11 月 18 日

晶片安全強化物聯網裝置身分驗證

2021 年 12 月 28 日

物聯網安全攸關營運風險 強化辨識攻擊限縮損害

2022 年 06 月 06 日

IAR技術長Anders Holmberg:基礎安全讓一切變簡單

2023 年 09 月 28 日
前一篇
支援8K解析度 superMHL快攻影音市場
下一篇
量宏啟用首座工廠 量子薄膜影像感測器邁入商用