愛德萬測試推出AI驅動的半導體測試解決方案

2025 年 10 月 16 日

美國愛德萬測試近日發表結合人工智慧運算的新的半導體測試解決方案。

愛德萬測試雲端解決方案導入輝達的先進機器學習技術於其即時資料處理平台(ACS RTDI),推進傳統測試流程轉型為人工智慧自適應學習方式。輝達已選擇導入ACS RTDI平台應用於Blackwell及次世代新產品的量產,目標是實現效率提升、降低成本並改善良率。

晶片測試一直是晶片製造中重要的一環,目標是確保每一個元件皆符合品質與效能標準。過往從資料收集、除錯分析與測試部署時間需要數週不等。ACS RTDI則將半導體量產測試傳統流程轉變為AI驅動、能持續自我調整,將測試從「驗證」進化到「預測」。

ACS RTDI結合輝達的AI推論科技,將人工智慧帶進半導體測試。NVIDIA Blackwell及未來的晶片,將受惠於ACS RTDI的跨站點即時資料傳輸能力,透過輝達GPU的加速運算最佳化每顆晶片測試。可擴充的GPU架構能輕易擴展所需運算能力,支援多重機器學習模型並行訓練,實現不間斷預測運作以提升良率、動態最佳化測試覆蓋率,並降低運算延遲、功耗與成本。

ACS RTDI已完成在全球多個半導體測試量產環境中的部署,展現出卓越穩定性,且安全地支援各類產品應用人工智慧及機器學習進行自動化測試。其彈性架構能分開處理資料準備、演算法與推論的結果等重要元素,使晶片廠商能迅速因應生產需求變化進行靈活調整。

愛德萬測試副總暨雲端解決方案事業處總經理張立翰表示:「在量產環境中導入輝達AI的運算及推論技術,充分展現ACS RTDI所具備的潛力。我們的合作加速整合了即時運算與即時資料存取的能力,開啟一個能自我調整、可擴充、由人工智慧驅動的新時代半導體測試格局。」

愛德萬測試計畫將輝達的神經模組框架NeMO與生成式AI微服務架構整合至ACS半導體測試資料分析解決方案中。這些技術將能有效整合多方面量產測試資料、模型評估,並部署成可直接於測試環境中執行的生成式AI代理。

透過上述整合,愛德萬測試正為下一波半導體創新奠定基礎──讓AI不僅能加速晶片開發流程,更改變晶片測試、驗證與導入市場的方式。

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