滿足嵌入式系統量測需求 太克全新MSO示波器亮相

作者: 侯冠州
2018 年 07 月 19 日

大量、高速的數據和資料傳輸,為嵌入式系統帶來全新的設計挑戰,其量測需求也不斷演變和進化,為此,太克科技(Tektronix)宣布推出全新6系列MSO混合訊號示波器,可同時在所有四通道上設計8GHz頻寬和25GS/s取樣率,能有效節省嵌入式系統設計人員的開發時間,降低投資成本。

太克科技大中華區行銷業務協理張天生表示,各式創新應用興起,例如3D感測,機器視覺等,產生更大量的資料和數據,使得嵌入式設計須用更快的時脈和高速串列匯流排來移動和處理更多資料;因此對於量測儀器性能也愈加的要求,唯有更高的效能,才能看到更快的訊號,該公司也因而推出新一帶MSO示波器。

據悉,新一代MSO示波器提供了1~8GHz的頻寬,4個25GS/s ADC ASIC,可同時用於4個8GHz頻寬的通道。例如,使用者可以同時查看和分析DDR3時脈和三個DDR3資料通道,進一步減少了在通道之間共享取樣系統的儀器,其完整分析設計特性所需的時間。

同時,該產品還使用了許多創新技術,包括15.6吋電容式「捏合-縮放-滑動」觸控式螢幕;視覺觸發功能,使用者可運用圖形區域來限定觸發,節省尋找想探究的訊號所需時間;透過FlexChannel輸入提供靈活配置;以及提供高達16位元垂直解析度的12位元ADC等。

此外,該款產品採用了新型低雜訊前置放大器ASIC—TEK061,可顯著降低雜訊,特別是對於數百毫伏峰值對峰值的訊號。憑藉其四通道25GS/s取樣率,該儀器在使用高解析度模式能在200MHz下提供16位元解析度,這意味著設計人員不僅可在其電源上看到干擾訊號,而且能以一定的準確度對其進行測量。

此一特性可滿足現今快速發展的寬能隙功率半導體量測需求。寬能隙功率半導體可實現更小、更高的轉換,但快速的切換會產生高共模訊號,其產生的雜訊可能會掩蓋切換波形中的重要細節,因而影響FET之間的訊號量測。而6系列MSO示波器透過低雜訊前置放大器TEK061,可顯著降低雜訊,能以更高的解析度和準確度量測直流電源。

標籤
相關文章

太克推展全方面FB-DIMM測試方案 伺服器記憶體串列技術成必然趨勢

2006 年 01 月 16 日

瞄準SATA/SAS測試 自動化儀器領風騷

2010 年 05 月 12 日

瞄準大中華區需求 太克力推訊號分析儀

2011 年 01 月 06 日

3D NB蔚為風潮 DisplayPort趁勢翻身

2011 年 09 月 27 日

攜手Voltech 太克跨足電源分析儀市場

2013 年 04 月 16 日

UI更友善 吉時利SMU搶先配備觸控螢幕

2013 年 08 月 15 日
前一篇
西門子協助桃園市打造先進智慧捷運系統
下一篇
催化IoT應用市場發展 研華加速終端設備聯網