環狀震盪器提供有效及成本的方式 如何量測電阻和電容的延遲效應

作者: 吳崇茂
2005 年 02 月 04 日
由於半導體產業持續往高時脈和小尺寸元件的方向發展,所以電阻和電容方面的延遲(RC Delay)效應,在電路設計和生產製程監控上,就變成值得去探討的環節。如何有效地且低成本地驗證及量測,也就變成了半體製造廠商一個重要的課題...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

PCI-E專欄:滿足遊戲玩家對速度的渴望 PCI Express加速影像資料傳輸

2005 年 10 月 03 日

車用電子:汽車安全與防護需求興起 智慧型無線通訊技術加速應用

2005 年 12 月 15 日

電源:採用升降壓充電控制器 解決鋰電池發熱問題

2005 年 12 月 14 日

簡化半導體測試作業 PXI模組小兵立大功

2010 年 10 月 28 日

人工智慧推進演算法/硬體創新 3D相機影像縫接潛力爆表

2021 年 12 月 01 日

高密度電源需求大增 Si/SiC/GaN元件特性各有千秋

2025 年 01 月 23 日
前一篇
Wind River購併RTI旗下ScopeTools事業群
下一篇
瑞薩與Infineon共同研發新式智慧卡軟體介面