突破驗證/測試瓶頸 低功耗晶片設計創新局

作者: 王智弘
2007 年 12 月 27 日
終端產品對節能的殷切需求,促使IC設計業者必須自系統層級開始,將功耗問題納入考量。而隨著CPF標準規格的問世,以及晶圓廠、EDA工具業者與IP供應商的支援,將有助解決傳統低功耗設計的技術瓶頸,提高產品成功機率。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

國際賽事/政策推波助瀾 行動電視新興市場萌芽

2008 年 05 月 29 日

爭食IoE市場大餅 MCU廠節能/高效方案上陣

2013 年 08 月 01 日

工業/服務型應用需求齊揚 機器人商機前景可期

2014 年 08 月 10 日

綠色運具商機蠢蠢欲動 電動車產業鏈蓄勢待發

2019 年 04 月 01 日

數位化提升人機協同力 AR應用遠端檢修增韌性

2022 年 06 月 06 日

建立QM流程整合三大車用資安標準

2024 年 01 月 09 日
前一篇
審慎考量電路板布局 降低手機音訊通道雜訊
下一篇
ST/天津一汽成立汽車電子應用聯合實驗室