致茂電子在2008年光電週LED展區針對當今最熱門的LED產業推出全系列的製程測試解決方案。由於LED具備輕巧、節能、環保、耐用、高亮度等多種優異特性下，逐漸在各個產業的應用上嶄露頭角。以LED的製程來說，從上游的磊晶(EPI)、中游的晶粒(Chip Process)、到下游的封裝(Package)，即可完成一個LED模組，並可多樣化地發揮在資訊顯示、光源、照明、通訊傳輸、遙控感測等功能應用上，市場規模相當龐大。
致茂電子所開發的LED測試設備是應用於中游晶片切割前後及晶粒擴張前後，針對晶粒的電性、光學及靜電放電(ESD)測試，並可結合點測機(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面，輕鬆快速地檢測LED晶片及晶粒。針對現在最火熱的背光源(Light Bar)應用，致茂已推出系列機種，能量測背光源模組之電性與光學特性。除此之外，為滿足客戶不同需求，致茂提供各種客製化的LED電性、光學測試設備，降低製造成本，提高客戶在同業的競爭力。
致茂電子於台北光電週期間，假台北世貿展館一館完整展出LED一系列測試新產品，包括PXI LED測試系統、LED Wafer/Chip點測機等。
致茂電子網址：www.chromaate.com
