華邦採用惠瑞捷V5400測試快閃記憶體晶圓

2008 年 12 月 16 日

惠瑞捷(Verigy)宣布知名快閃記憶體供應商華邦電子已採購多套惠瑞捷V5400快閃記憶體測試系統,供台中廠使用,以測試SpiFlash序列式快閃記憶體的晶圓。這些記憶體採用序列週邊介面(SPI),廣泛使用於PC、行動電話和其它行動裝置中。華邦電子選擇V5400的原因在於,V5400的測試成本低於其它系統,且V5400測試系統在台灣安裝的數量龐大,更容易提供客戶需要的服務。華邦電子原本即已採用惠瑞捷V5000系列旗下的V5000e工程開發工作站,現在,只要將既有的測試程式移轉到V5400系統上,即可執行量產測試。
 



V5400針對快閃記憶體的晶圓測試,提供多達四千六百零八個輸入輸出(I/O)通道,且每套系統可以做彈性的配置,最多可測試一百四十四個元件。因此,相較於傳統的快閃記憶體測試系統,可以大幅降低測試成本。V5400採用彈性的第五代Tester-Per-Site架構,可以讓製造商測試各式各樣的記憶體元件。
 



華邦電子執行副總溫萬壽表示,華邦先進12吋晶圓廠的順利量產與成本結構的競爭力,對該公司成功立足快閃記憶體市場極為重要。除了提供可靠且經濟有效的晶圓測試設備之外,惠瑞捷的應用與可運作時間(Uptime)支援團隊也協助華邦快速導入量產,達成上市時間的目標。
 



華邦電子網址:www.winbond.com


惠瑞捷網址:www.verigy.com

標籤
相關文章

NI CompactRIO為汽車業強化低速CAN連接功能

2006 年 09 月 22 日

XMOS舉辦實作設計研討會

2008 年 10 月 27 日

安立知推出高靈敏度誤碼偵測模組

2013 年 11 月 20 日

溫瑞爾新一代物聯網RTOS整合虛擬化技術

2014 年 09 月 03 日

凌華攜手IBM搶攻智慧製造商機

2019 年 11 月 14 日

TNCAP首撞見證奠定車安新紀元

2022 年 10 月 31 日
前一篇
意法半導體發表結合類比開關/音頻放大器二合一晶片
下一篇
新唐科技推出新一代8位元微控制器