蔚華/南方聯手推出非破壞性SiC晶圓檢測方案

作者: 黃繼寬
2023 年 11 月 28 日
半導體測試解決方案供應商蔚華科技與旗下數位光學品牌南方科技,近日共同推出JadeSiC-NK非破壞性缺陷檢測系統。該檢測系統是專為碳化矽晶圓的缺陷檢測而設計,可協助碳化矽晶圓供應商跟使用碳化矽材料製造元件的業者實現100%檢測,不僅能節省碳化矽晶圓的成本,還可協助基板跟元件製造商實現更全面的製程分析與控制,進而提高產品良率。...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

製程控制重要性日增 科磊訂單接不完

2010 年 08 月 20 日

科銳SiC MOSFET助陣 電動車傳動效率大增

2018 年 07 月 05 日

加強RF/功率半導體布局力道 Cree出售照明業務

2019 年 04 月 03 日

集結產學之力 PIDA發表化合物半導體技術路線圖

2021 年 04 月 07 日

看好電動車發展潛能 II-VI加速SiC基板/磊晶晶圓擴產

2022 年 03 月 10 日

AI帶動散熱/電源需求 賀利氏電子雙管齊下解難題

2024 年 09 月 12 日
前一篇
歐特明推出視覺AI大型車主動預警輔助系統
下一篇
Tektronix推出開放原始碼Python原始驅動程式套件