西門子宣布推出Tessent IJTAG Pro，透過將原本串列運作轉變為平行運作，進而徹底改變基於IEEE 1687的IJTAG輸入/輸出方式，同時提供自訂硬體的讀寫存取功能。這款全新軟體導入高頻寬內部JTAG(IJTAG)與通用資料串流功能，並運用西門子Tessent串流掃描網路(SSN)軟體的寬匯流排提升資料傳輸速度，協助客戶降低測試成本、縮短測試時間。
隨著電晶體密度在多維度上持續擴展，半導體產業正經歷前所未有的快速演進。當半導體設計從2D架構逐步發展至2.5D，乃至完整的3D IC架構時，設計測試面臨的挑戰也呈指數級增加。測試向量數激增、向量執行時間延長、ATE成本高漲，加上測試引腳的資源受限，種種因素意味著：若要在設計流程中維持競爭優勢，最佳化現有基礎架構以支援測試規模擴展，不僅至關重要，更已成為必要之舉。
西門子數位工業軟體數位設計創作平台資深副總裁暨總經理Ankur Gupta表示：「在現今複雜的IC設計中，最佳化測試時間是一項重大挑戰。Tessent IJTAG Pro運用西門子SSN架構，將傳統串列IJTAG運作轉換為高頻寬平行處理流程，不僅能加速測試、降低測試相關成本，還能提供革新測試存取所需的彈性，以符合產業不斷演變的需求。隨著半導體設計從簡單的2D架構逐步升級至完整的3D IC架構，無論是單一小晶片(chiplet)還是整個3D IC封裝，都能透過這款軟體節省測試成本。」
Google資深工程經理Srinivas Vooka指出：「高頻寬IJTAG創新性地運用SSN匯流排架構，其測試向量傳輸速度遠超傳統串列方式，大幅縮短測試套用時間，在內建自我測試(BIST)與混合訊號IP測試方面效果尤為顯著。」
