智慧型手機處理器變身

迎接LTE設計/測試新挑戰 量測儀器解決方案率先出擊

作者: Sandy Fraser
2008 年 03 月 24 日
通訊技術由2G發展到3GPP LTE時,在設計與測試上帶來許多新挑戰,由於LTE測試規格將底定,也讓廠商在測試標準上有所依歸,可解決日後LTE全面商用化後,產品不相容問題,而技術永遠跑在前頭的量測儀器商,也適時推出符合LTE測試需求產品,解決LTE特殊的測試需求。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

寬頻通訊新寵兒(二):EPON

2004 年 10 月 15 日

材料與製程挑戰有解 可撓式AMOLED商用可期

2013 年 02 月 04 日

克服鄰近網路干擾問題 PLC打造高品質家庭聯網環境

2014 年 04 月 14 日

軟性電子前景可期 新興材料群雄並起

2017 年 10 月 30 日

加上觸控式人機介面 廚房電器更美觀/易操作

2019 年 07 月 29 日

AI影像辨識/預測助攻生物保育 動物分析追蹤系統大進化(1)

2024 年 11 月 29 日
前一篇
Maxim推出三通道/PCI Express热插拔控制器
下一篇
行情正夯 群雄搶占數位相框市場