類比技術:類比元件測試新寵 DFT縮短測試時間與成本

2005 年 08 月 03 日
測試模式是一種可測試設計(Design-for-Test, DFT)技術,主要用於半導體元件測試。採用測試模式技術的設計可作動態配置,讓一個或多個獨立功能方塊接受測試,不像全功能測試般出現寄生參數效應...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

2004手機用相機模組技術發展回顧 畫素突破500萬大關 朝向小型化及低耗電發展

2005 年 03 月 02 日

太陽能輔助供電再上層樓 DPPM強化鋰電池充電效率

2007 年 08 月 24 日

降低MTP移動時間延遲  VR視野穩定不頭暈

2017 年 01 月 03 日

揮發性化合物氣體感測 空氣品質監控有一套

2018 年 12 月 24 日

加速打造邊緣智慧應用 整合/開放/多元為關鍵

2019 年 12 月 30 日

在SoC中實現異質整合 CMOS 2.0開闢新道路(2)

2024 年 12 月 18 日
前一篇
眺望台:元件間訊號流動關係重大 完整訊號路徑架構可提升效能
下一篇
LSI與RTJ Computing攜手合作 提供支援Java技術的ZSP核心解決方案