致茂電子PXI系統事業部，將於3月31日～4月1日，假新竹科學園區勞工育樂中心B1會議室及南科育成中心第三會議室，將舉辦PXI高速LED測試系統研討會，會中將展示LED測試系統、ESD測試儀器，可針對LED晶片/晶粒作電量、光學特性的分析及ESD測試( Human Body Mode-STM5.1-2001或Machine Mode-STM5.2-1999 )，且以開放的PXI架構為基礎，具有可擴充性及快速整合能力；另外，會中將發表最新的LED Chip Prober，此為採用CCD影像辨識系統來處理切割及擴張前後晶粒的全自動高速檢測系統，具有自動排除晶粒破裂及錯位等功能，為業界第一台整合ESD之高速LED測試系統，可提高目前業界測試系統兩倍以上的速度及精準度，為最佳的高速LED測試解決方案。藉由此研討會與光電業界先進共同探討相關議題，會中將有實體現場展出，竭誠歡迎業界先進踴躍參加。
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