在數位相機、DV等大容量儲存市場的拉抬下，Flash的需求節節上升；另外又因DRAM市場波動幅度大，Flash的毛利尚佳，因此Flash的生產成為DRAM廠進行季節性產能規劃兵家必爭之地。對於DRAM廠來說，若為了Flash的測試重新添購機台，無異增加額外的資本支出，若能因此能夠同時測 DRAM和Flash的量測機台便成為最佳的選擇。安捷倫科技於日前推出V5400系列，能克服標準與堆疊式記憶體模組如Falsh、DRAM、SRAM 的測試挑戰，產出速度較現有系統快4倍。
分析整體記憶體測試的市場，安捷倫加州半導體測試分部業務開發經理趙壁表示，現有記體體測試市場大而且種類繁多，以Flash為例，DRAM大廠Samsung生產Flash兩年，其市佔率便已取代原本的Intel成為龍頭。
在記憶體集積度提高、大量產出的壓力下，晶圓生產業者除了須要縮減測試時間，更希望機台的擴充性提高、降低測試成本。對於測試機台供應商而言，挑戰在於提供多樣化的記憶體測試，並且克服Flash主流封裝方式—SIP的堆疊測試瓶頸。安捷倫的V5400可進行晶圓測試和記憶體成品測試，產出速度較現有機台快4倍。
V5400採用TPS(Tester Per Site)架構，每個待測元件(DUT)都擁有自己的測試資源，發揮測試器的最大效用。值得一提的是，V5400配有動態的AGP (Algorithmic Pattern Generator)功能，透過軟體配置設定，可以讓每個Test Site模組獨立測試待測元件，或是測試各種不同針腳的元件。
而V5400的測試頭尚提供並行測試能力，並提供多達144個的獨立Test site，測試通道高達4608個，以非同步的方式，降低整體系統的測試成本。為了提高相容性，V5400可與V5000系列共用相同的Test site模組和軟體介面，不需額外採購測試程式。
對於未來的產品規劃，趙壁表示，安捷倫計畫於2006年推出含DRAM、Flash及Final Test功能的測試機台；除了現有的晶圓測試，該公司預計於明年中推出Final Test機台，希望在5年內成為SIP記憶體測試機台市佔率的第1名。
