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愛德萬測試推新SoC測試系統 因應運算測試挑戰

發布日期:2020/09/28 關鍵字:愛德萬Advantest數位ICHPCIoTATE

愛德萬測試(Advantest)針對運算效能達百萬兆級 (Exascale) 的先進數位IC ,發表最新次世代V93000測試機。該系統搭載最新測試頭,結合Xtreme Link科技及EXA Scale通用數位和電源供應卡,不僅能支援最新測試方法,更能降低測試成本、縮短產品上市時程。

現今最先進的半導體製程帶來技術的變革,得以即時整合來自物聯網 (IoT)、手持裝置、汽車和大型伺服器等等無數個資料來源。隨著行動處理器、高效能運算 (HPC) 和人工智慧 (AI) 晶片持續進化,需要處理的資料量也跟著爆炸性成長。新的測試挑戰伴隨這些進步接踵而來,譬如極大量的掃描數據、極端電源需求、快速的良率學習和多工同測的配置,在在都需要解決。

愛德萬測試最新V93000 EXA Scale世代,在已獲業界肯定的V93000架構上,運用創新技術解決上述挑戰。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測試最新一代8核心的測試處理器,以獨特的能力加速並簡化測試工作。此外,V93000 EXA Scale系統還採用愛德萬測試專利Xtreme Link科技,乃是專為自動測試設備 (ATE) 所設計的通訊網路,能執行高速資料連接、嵌入式運算能力以及即時卡對卡 (card-to-card) 通訊。

這套系統的最新Pin Scale 5000數位卡,正是為了伴隨著大量數位設計所導致的爆炸性成長的掃描資料而設計。Pin Scale 5000以可達5Gbit/s的速度為掃瞄測試奠定了新標準,同時提供市面上深度最大的向量記憶體,並運用Xtreme Link科技,實現業界最快的處理速度。有了這項科技,客戶便能為自家晶片選擇最有效率的掃描方法。

在供電電壓小於1V同時能提供高達好幾千安培的超高電流需求下,使得ATE的電力傳輸能力成為決定性關鍵。XPS256電源供應卡是另一項業界創新,配備單一DPS卡就能涵蓋所有電源需求:極細粒度電源 (fine-granular power)、無限量且具彈性的結夥 (ganging),以及超凡的動態與靜態效能。

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