Basler參與先進封裝製程設備前瞻技術研討會

2023 年 12 月 25 日

Basler受邀參與由工業技術研究院(ITRI)與台灣電子設備協會(TEEIA)舉辦之先進封裝製程設備前瞻技術研討會,與業界先進一起探討自動光學檢測(AOI)在封裝產業的技術發展與應用。

封裝產業為台灣核心發展產業之一,其相關製造技術已經成為行業發展的重中之重,如何最大化地提升生產效率和降低不良率成為各家廠商的迫切需求。Basler Taiwan產品市場經理Niken Lai表示,半導體的製程繁複,每道製程的良率皆影響成品的性能表現,希望藉由可靠的視覺檢測方案來幫助客戶。因此,如何選用與打造高效率、高穩定性的解決方案,將是搶占商機的關鍵。

本場分享Basler從半導體檢測需求和痛點出發,分享如何透過前瞻的視覺技術解決挑戰,例如:自動對焦方案、利用短波紅外線(SWIR)成像技術檢測平常不容易看到的瑕疵…等,展現其在機器視覺領域的整合能力,使客戶獲得相容的自動化方案。

標籤
相關文章

Basler強化ace 2 X visSWIR相機產品組合

2023 年 12 月 06 日

ams影像感測器新品提供12位元14Mpixel解析度輸出

2018 年 11 月 20 日

Basler推出高解析度ace 2 X visSWIR相機

2024 年 06 月 20 日

SEMICON Taiwan 2025頂級陣容再升級 重量級半導體領袖齊聚台北

2025 年 09 月 01 日

ERS聚焦先進封裝與AI晶片測試關鍵挑戰 亮相SEMICON Taiwan 2025

2025 年 09 月 12 日

西門子與日月光合作開發基於3Dblox的VIPack封裝平台工作流程

2025 年 10 月 15 日
前一篇
ST安全元件守護聯網汽車資料安全
下一篇
imec/三井化學推動EUV奈米碳管光罩護膜商用