CEA-Leti發表兩項新技術 固態光達普及跨出重要一步

作者: 吳心予
2021 年 03 月 10 日

固態光達(Solid-state LiDAR)被視為促成光達應用普及的關鍵,但固態光達的結構與機械式光達截然不同,而且通道數量極大,如何準確分析光達晶片的特徵與進行通道校正,成為棘手難題。法國CEA-Leti近日發表一篇論文,展示其實現晶圓級OPA特徵分析的高階量測設定,以及基於達爾文演化論所發展出的高通道數光相位矩陣(Optical Phase Array, OPA)校正演算法(Genetic Algorithm),可望讓LiDAR系統的商用普及跨出關鍵一步。

基於OPA的矽光子顯微圖。用於0°校正的遠場發射曲線(Far Field Emission Profile)OPA。

論文的主要作者Sylvain Guerber表示,高效能OPA的開發將會為自駕車、全像式顯示器、生物醫學影像及其他應用所需的平價LiDAR系統鋪路。然而LiDAR的普及仍取決於更低的系統成本及更小的封裝尺寸。

OPA是一種新興技術,由間隔約1µm緊密排列的矩陣組成,並在大角度內輻射相干光(Coherent Light),可以透過調整每個陣列中發射光的相對位置,來改變干涉圖(Interference Pattern)。例如,如果陣列之間的相位梯度是線性的,就會形成定向波束。而透過改變線性梯度的斜率,可以控制光束的方向,達到使固態光束轉向的目的。目前的LiDAR使用沉重、耗能的機械結構使光束轉向。與現有光達相比,OPA光達的掃瞄速度更快,而且能源使用效率更好。

不過,為了獲得良好的解析度,基於OPA的固態光達晶片,有著十分驚人的通道密度。舉例來說,要偵測到100公尺外10公分大小的物件,在使用1µm波長的OPA晶片上,必須整合至少1,000根天線,每根天線的間隔約1µm。要對這麼多天線的特性進行分析,需要新的測試方法。此外,伴隨著極高的通道數,要快速對這些天線進行校正,也需要新的演算法。在這篇名為《Development, Calibration and Characterization of Silicon Photonics-Based Optical Phased Arrays》的論文中,CEA-Leti研究團隊對其所使用的測試設定進行描述,同時也發表其基於達爾文進化論所發展出來的高通道數校正演算法。與先前使用的校正算法相比,新的校正算法速度提高約1,000倍。

標籤
相關文章

搶占訊號鏈市場 ADI IC設計/測試平台上陣

2011 年 04 月 29 日

牽手歐洲車廠 英飛凌力拱24GHz雷達ADAS

2012 年 07 月 18 日

自駕車研發熱度升溫 雷達/光達感測器競出籠

2016 年 03 月 17 日

模組化開發套件問世 固態光達應用更多元

2016 年 09 月 14 日

拓展業務/加速自駕發展 Waymo宣布販售Honeycomb光達

2019 年 03 月 12 日

艾邁斯歐司朗攜手Cepton 905nm雷射器建立LiDAR解方

2022 年 02 月 15 日
前一篇
英飛凌推IoT/串流裝置解決方案 支援Wi-Fi 6/6E及Bluetooth 5.2
下一篇
SEMI全球行銷長暨台灣區總裁曹世綸:地緣政治-- 台灣半導體業新課題