美商國家儀器(NI)宣布舉辦年度的第五屆自動化測試高峰會(Automated Test Summit)。此次高峰會將針對自動化測試的趨勢與挑戰，進行相關的技術研討議程。2008年自動化測試高峰會將於6月5日透過網際網路舉行，屆時將涵蓋美洲、歐洲，與亞洲，並讓與會者能以多種語言向專家諮詢。在這全天的免費活動中，與會者可線上參加技術會議、現場即時Q&A討論，並與展覽區域的製造商進行互動。
全世界的測試與量測公司皆參與此盛會，包含Averna、Cal-Bay、英特爾(Intel)、微軟(Microsoft)與太克(Tektronix)，均將分享相關技術經驗與最佳案例。美商國家儀器商業與科技部門的Mike Santori亦將主講「Optimizing Efficiency in Test」，議程主題包含降低軟體開發成本、硬體設計的最新趨勢、延長測試系統的使用壽命與測試設計介面討論。
與會者可線上進行報名，或至www.ni.com/testsummit取得完整的技術議程表。
美商國家儀器網址：www.ni.com/taiwan
