新一代PXI無線測試系統(WTS)大幅推升行動、物聯網裝置產測效率。國家儀器(NI)發表支援多重標準、多樣待測裝置(DUT)/連接埠及高速平行測試的PXI無線測試系統，能滿足行動及物聯網設備製造商降低測試成本、提高生產效率的要求，包括高通創銳訊(Qualcomm Atheros)、博通(Broadcom)皆已將該系統列入其產測工具組建議清單。
NI行動裝置業務部門副總裁David Loadman表示，行動、物聯網設備採行的無線射頻(RF)標準日益多元、感測器和連接埠型態也不斷翻新，導致產線端測試複雜度與日俱增；因此，近來有愈來愈多原始設計製造商(ODM)、原始設備製造商(OEM)開始擴大導入PXI模組化測試儀器，盼發揮其可靈活擴充硬體性能，並能以可編程軟體即時調整測試需求的優勢，確實降低產測成本及加倍生產效率。
看準市場對PXI模組化儀器的需求成長潛力，NI近期加碼推出專門針對產線量測速度與平行測試而優化的PXI無線測試系統–WTS。該產品結合PXI硬體最新功能與技術，可透過單一平台滿足多重無線標準、DUT形式與多元連接埠測試需求；同時還可搭配靈活的測試序列軟體如TestStand Wireless Test Module，顯著提升平行測試多個裝置的效率。
Loadman透露，NI已與高通創銳訊(Qualcomm Atheros)、博通(Broadcom)建立緊密的合作關係，這兩家全球數一數二的IC設計大廠更已將NI PXI模組化測試儀、WTS、LabVIEW軟體和自動化控制程式列入其產測工具組建議清單；在強強聯合之下，NI將能提供更貼近產線需求的量測方案，克服日益複雜的無線標準測試挑戰。現階段，該公司亦緊鑼密鼓與台灣、中國大陸主要晶片商洽談合作，以持續拓展ODM、OEM客戶群。
據悉，WTS內建PXI向量訊號收發器(VST)技術，可針對製造測試環境提供優異的RF效能，並隨著千變萬化的RF測試需求而擴充。WTS亦支援LTE Advanced、802.11ac和藍牙低功耗(Bluetooth Low Energy)等多重標準，因此廣泛適用於無線區域網路(WLAN)存取點、行動裝置，以及穿戴式電子、車載資訊娛樂(IVI)系統，或其他納入行動、無線連接與導航標準的物聯網設備製造測試作業。
